劃線(xiàn)平板
工作表面的平面度,用斑點(diǎn)法檢驗(yàn)時(shí)在25mm平方面積內(nèi),對(duì)于0級(jí)和1級(jí)的劃線(xiàn)平板,_不少于25點(diǎn),2級(jí)的劃線(xiàn)平板應(yīng)不少于20點(diǎn),3級(jí)的不少于12點(diǎn)。劃線(xiàn)平板的平面度一般是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)劃線(xiàn)平板來(lái)檢驗(yàn)的。標(biāo)準(zhǔn)劃線(xiàn)平板是三塊成套做成,_能夠互相檢驗(yàn)。
角度檢驗(yàn)平板,是用來(lái)檢驗(yàn)互相垂直的平面的位置的。角度檢驗(yàn)平板上有兩個(gè)互成垂
直角的刮研平板表面。檢驗(yàn)工作是根據(jù)斑點(diǎn)法進(jìn)行的。在制造和應(yīng)用的方法方面角度平板
和檢驗(yàn)平板有許多共同之處,但在本質(zhì)上,都是角度量具,是表面寬的角尺,對(duì)平面度的
檢驗(yàn)只起次要作用。
研磨過(guò)三塊劃線(xiàn)中_兩塊互相檢驗(yàn)時(shí),在25mm平方面積內(nèi),_要有_數(shù)目的斑點(diǎn)。在這種情況下,才可以_劃線(xiàn)平板具有實(shí)際上平表面。注:根據(jù)斑點(diǎn)法檢驗(yàn)刮研平
板后的兩塊刮研劃線(xiàn)平板,只能決定兩塊平板表面能緊密結(jié)合,但并不有說(shuō)明平面度合格,因?yàn)閮蓧K劃線(xiàn)平板表面互相刮研后可成球面。
測(cè)量時(shí)所用的研磨平板平面的平面度,是由光波干涉法應(yīng)用前述的光學(xué)平面法進(jìn)行檢驗(yàn)的。直線(xiàn)度偏差也可用尺寸和千分表檢驗(yàn)。檢驗(yàn)時(shí)先把直角尺放在劃線(xiàn)平板表面的上方。再把裝有可以讀出公差的千分表和_支架放在被檢驗(yàn)的平板工作表面的上方,并使千分表上的量頭和直角尺相接觸。當(dāng)移動(dòng)裝有千分表的支架時(shí),_可以看到被檢平面的直線(xiàn)度
偏差。
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